Иорданишвили Е. К., Олимов Х. О., Равич Ю. И..  Методы тензометрии как прогнозирующий фактор поведения полупроводниковых термоэлементов в экстремальных температурных условиях // Инженерно-физический журнал. . ТОМ 53, №1. С. 52.